CyberOptics présente des méthodologies éprouvées pour identifier et résoudre les problèmes que posent les particules en suspension à EMLC 2015

CyberOptics® Corporation (NASDAQ: CYBE), un développeur et fabricant chef de file mondial de solutions de technologie de détection 3D à haute précision, va exposer à la 31ème conférence européenne sur les masques et la lithographie (European Mask and Lithography Conference), EMLC 2015, se tenant du 22 au 23 juin 2015 à Eindhoven. La conférence de deux jours est axée sur la science, la technologie, l'ingénierie et l'application des technologies de masques et de lithographie, et des processus connexes.

Allyn Jackson, ingénieur d'applications sur le terrain chez CyberOptics, partagera des perspectives, des meilleures pratiques et un savoir-faire technique pour identifier et résoudre rapidement les particules dans les environnements de photolithographie. Les sessions de présentation d'affiches sont prévues pour le lundi 22 juin 2015, de 17h30 à 18h40 dans le Hall Winteruin de l'Exposition technique.

« La minimisation des particules en suspension dans les applications de lithographie reste problématique quand des méthodes de réticules de balayage de surface in situ ou manuelles traditionnelles sont utilisées. Ces méthodes patrimoniales manquent de rétroaction en temps réel, et des sources de particules imprévues restent souvent non détectées pendant des heures ou même des jours avant d'être finalement identifiées », a déclaré M. Jackson. « CyberOptics examinera les avantages que présente l'utilisation d'une méthode de comptage de particules de type réticule sans fil comme moyen plus efficace et plus rentable d'identifier, de localiser et de résoudre les particules en suspension en temps réel. »

Le capteur de particules en suspension à quartz (Airborne Particle Sensor Quartz - APSRQ) ReticleSense® de CyberOptics a été conçu et développé pour être utilisé avec des scanners et des moteurs pas à pas dans des usines de semi-conducteurs et comporte tous les codes à barres et marques d'alignement nécessaires pour assurer une compatibilité étendue. L'APSRQ peut être chargé directement dans un scanner tout comme un réticule à quartz, et parcourir le chemin complet du réticule pour détecter en temps réel quand et où des particules sont présentes.

Les ingénieurs en lithographie peuvent compter sur la technologie exclusive ReticleSense de CyberOptics, qui est une extension du capteur de particules en suspension dans l’air (Airborne Particle Sensor - APS) en forme de plaquette WaferSense® utilisé dans des usines de fabrication de semiconducteurs du monde entier, y compris les trois principaux fabricants pour lesquels un environnement sans contamination est crucial.

Les capteurs de particules en suspension WaferSense et ReticleSense permettent aux ingénieurs en équipement d'abréger la qualification des équipements, les délais de production et les cycles de maintenance tout en réduisant les dépenses. Les clients ont constaté jusqu'à 88 % d'économie de temps, jusqu'à 95 % de réduction des coûts et des débits jusqu'à 20 fois supérieurs avec des besoins en ressources de main d'œuvre réduits de moitié en utilisant les capteurs WaferSense ou ReticleSense par rapport aux méthodes de plaquettes de balayage de surface patrimoniales.

À propos de la gamme WaferSense et ReticleSense

Le portefeuille de mesure de WaferSense, y compris le Système de nivellement automatique (Auto Leveling System - ALS), le Système d’écartement automatique (Auto Gapping System - AGS), le Système de vibration automatique (Auto-Vibrtion System - AVS), le Système d’apprentissage automatique (Auto Teaching System - ATS) et le Capteur de particules en suspension (Airbone Particle Sensor - APS) sont maintenant disponibles en plaquettes de 200 mm, 300 mm et 450 mm. Par ailleurs, l’APS et l’ALS sont tous deux disponibles en 150 mm. Le Capteur de particules en suspension ReticleSense (Airborne Particle Sensor - APSR), le Système de nivellement automatique ReticleSense (Auto Leveling System - ALSR) et le nouveau Capteur de particules en suspension à quartz ReticleSense (Airborne Particle Sensor Quartz - APSRQ) sont disponibles dans un facteur de forme au contour de réticule.

Pour de plus amples informations sur l’ensemble de la gamme de solutions de CyberOptics, veuillez visiter le site Web de la société à l’adresse : www.cyberoptics.com.

À propos de CyberOptics

CyberOptics Corporation (NASDAQ:CYBE) est un développeur et un fabricant chef de file mondial de solutions de technologie de détection de haute précision. Les capteurs CyberOptics sont utilisés sur les marchés de la métrologie polyvalente et du balayage 3D, de la technologie de montage en surface (SMT) et des semiconducteurs pour améliorer de manière significative les rendements et la productivité. En mobilisant ses technologies de pointe, la société s'est positionnée de façon stratégique en tant que leader mondial en capteurs 3D de haute précision, ce qui a permis à CyberOptics d'accroître sa pénétration de ses segments verticaux clés. CyberOptics a son siège social à Minneapolis, dans le Minnesota, et exerce ses activités dans le monde entier depuis ses installations d'Amérique du Nord, d'Asie et d'Europe.

Les déclarations concernant la performance anticipée de la société sont prévisionnelles, et, par conséquent, elles sous-entendent des risques et des incertitudes, y compris, sans limitation : les conditions du marché dans les industries mondiales des biens d’équipement de semiconducteurs et SMT ; la concurrence et la pression croissantes des prix sur les ventes de nos produits, en particulier nos systèmes SMT ; le niveau des commandes de nos clients équipementiers ; la disponibilité des pièces requises pour satisfaire les commandes des clients ; les défis imprévus liés au développement de produits ; l’effet des événements mondiaux sur nos ventes, dont la majorité proviennent de clients étrangers ; les changements rapides de la technologie sur les marchés de l'électronique ; les lancements de produits et leur tarification par nos concurrents ; le succès de nos initiatives de technologie 3D ; les attentes relatives au LDI et son impact sur nos opérations ; les risques d’intégration associés au LDI ; les prévisions d'une croissance d'au moins 10 % des ventes et des résultats d'exploitation au seuil de la rentabilité pour 2015, ainsi que les autres facteurs énoncés dans les dossiers déposés par la société auprès de la Commission des valeurs mobilières américaine.

Tous les noms représentent les marques de commerce de leurs sociétés respectives.

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